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太陽光模擬器三大參數(shù)
發(fā)布時(shí)間：2023-03-29 瀏覽量：2290
太陽光模擬器的參數(shù)及等級(jí)劃分
太陽光譜匹配性、輻射空間不均勻性、輻射時(shí)間穩(wěn)定性等參數(shù)都是太陽光模擬器的重要參數(shù)。
太陽光譜匹配性
在室內(nèi)測量時(shí)，太陽光模擬器用來模擬太陽電池光電轉(zhuǎn)換特性測試，并在測量太陽電池量子效率時(shí)，需將太陽光模擬器作為偏置光源照射在太陽電池上，因此，必須確定太陽光模擬器的光譜照度分布與真實(shí)太陽的差別，才能準(zhǔn)確分析太陽電池的光電轉(zhuǎn)換特性。
IEC 60904-3 所給出的 AM 1.5 的參照光譜輻射值的偏差就是太陽光模擬器的光譜匹配度。脈沖式太陽光模擬器的光譜匹配度會(huì)隨著脈沖的改變而改變。因此，光譜輻射測定實(shí)驗(yàn)應(yīng)在 一定時(shí)間內(nèi)進(jìn)行，并需定期檢查其數(shù)值。
依據(jù)穩(wěn)態(tài)陽光模擬光源在幾個(gè)光譜段與真實(shí)陽光的差異進(jìn)行劃分等級(jí)：0.75～1.25 內(nèi)為 A 級(jí)； 0.6～1.4 內(nèi)為 B 級(jí)；0.4～2.0 內(nèi)為 C 級(jí)。
輻射空間不均勻性
輻照不均勻，會(huì)造成太陽電池組件上各電池片接收到的光輻射不同，從而使太陽電池效率和功率評(píng)定產(chǎn)生偏差。輻照不均勻度就是在有效幅照面的整個(gè)范圍內(nèi)，輻照度隨位置變化的最大偏差。
假設(shè)測試平面內(nèi)各點(diǎn)的輻照度 G 不隨時(shí)間變化，則平面的輻照不均勻度為：
輻照不均勻度 =( 同一測試平面上最大輻射 照度 – 最小輻射照度 )/( 最大輻射照度 + 最小輻射照度 )×100%
式中，輻照度是指輻照到面上的輻射通量與該面的面積之比。
在測定光伏組件的太陽光模擬器的輻射的非均勻性主要取決于測試室或測試裝置內(nèi)部的反射條件。因此，非均勻性對(duì)整個(gè)系統(tǒng)來進(jìn)行評(píng)估的。
依據(jù) IEC 60904-9-2007 標(biāo)準(zhǔn)劃分等級(jí)：2% 以內(nèi)為 A 級(jí)；5% 以內(nèi)為 B 級(jí)；10% 以內(nèi)為 C 級(jí)。
輻射時(shí)間不穩(wěn)定性 ( 輻照不均勻度、輻照不重復(fù)度 )
輻射時(shí)間不穩(wěn)定性是指在有效輻照面內(nèi)任意給定位置上，在規(guī)定的時(shí)間間隔內(nèi)，輻照度隨時(shí)間變化的最大相對(duì)偏差。
假設(shè)測試平面內(nèi)輻照不均勻性不變，則多次測量中輻照時(shí)間穩(wěn)定性為：
輻照時(shí)間穩(wěn)定性 =( 多次測量中測試平面上 同一參考點(diǎn)處的最大輻射照度 – 最小輻射照度 )/ ( 最大輻射照度 + 最小輻射照度 )×100%
輻射時(shí)間不穩(wěn)定性由 STI ( 短期不穩(wěn)定性 ) 和 LTI ( 長期不穩(wěn)定性 ) 共同決定。
STI 與 I-U 性能測試實(shí)驗(yàn)中數(shù)據(jù)的收集時(shí)間相關(guān)。在 I-U 曲線上，STI 的數(shù)值一直變化。在 I-U 性能測試實(shí)驗(yàn)中，LTI 取 I-U 實(shí)驗(yàn)結(jié)束時(shí)間； 在輻射暴露測試實(shí)驗(yàn)中，LTI 取輻射暴露總時(shí)間
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